微处理器浮点运算功能的测试方法研究

• 作者: 夏宏 曲英杰 王沁
• 来源期刊: 计算机工程与应用
• 学科: 工学
• 关键词: 微处理器功能测试方法浮点运算测试覆盖率
• 年，卷（期）: 2001,（7）
• 所属期刊栏目: 学术探讨
• 页码范围: 42-43,46
• 页数: 3页
• 分类号: TP368.1
• 字数: 3029字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1002-8331.2001.07.014

摘要

该文给出了一种微处理器浮点运算功能的测试方法，该方法的测试工作量少、测试时间短，而同时又具有较高的测试覆盖率。工程实践表明，该方法确实是一种可行的、有效的功能测试方法。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王沁	北京科技大学计算机系	145	1212	18.0	29.0
2	曲英杰	北京科技大学集成电路中心	7	81	4.0	7.0
3	夏宏	北京科技大学集成电路中心	10	70	4.0	8.0