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摘要:
对于直接重写磁光记录薄膜的磁性测量,实际测得的磁滞回线是磁光薄膜与玻璃基片和石英试杆共同作用的结果,不能由此图直接确定基本的磁性参数.根据磁光薄膜的曲线和玻璃基片与石英试杆的曲线之间的特点,提出一种简单有效的方法快速直接确定基本的磁性参数.
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内容分析
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文献信息
篇名 针对玻璃基片石英试杆影响的磁光薄膜磁性参数的估算方法
来源期刊 信息记录材料 学科 工学
关键词 磁光薄膜 磁性参数 玻璃基片 石英试杆 估算方法
年,卷(期) 2002,(2) 所属期刊栏目 技术知识介绍
研究方向 页码范围 57-58
页数 2页 分类号 TM936
字数 1269字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1009-5624.2002.02.014
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 李震 华中科技大学电子科学与技术系 139 769 14.0 21.0
2 罗玉芬 华中科技大学计算机学院 1 0 0.0 0.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
磁光薄膜
磁性参数
玻璃基片
石英试杆
估算方法
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
信息记录材料
月刊
1009-5624
13-1295/TQ
大16开
河北省保定市乐凯南大街6号
18-185
1978
chi
出版文献量(篇)
9919
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46
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13955
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