基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取       
摘要:
LVS是IC Layout设计中一个重要的验证环节,结合实例分析,系统讨论了LVS的工作原理和验证流程.
推荐文章
VLSI版图DRC验证算法的优化
版图验证
层次式算法
扫描线算法
VLSI
深亚微米DSM
SoC芯片版图的设计与验证
SoC
MCU
版图设计
版图验证
Cadence版图设计环境的建立及设计规则的验证
工艺库
显示文件
设计规则验证
版图
一种减小版图共模偏差的方法
共模偏差
寄生参数
并联
Calibre
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
(/次)
(/年)
文献信息
篇名 LVS版图验证方法的研究
来源期刊 电子器件 学科 工学
关键词 LVS 物理验证 IC设计
年,卷(期) 2002,(2) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 165-169
页数 5页 分类号 TN4
字数 2586字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1005-9490.2002.02.013
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 吴金 东南大学微电子中心 47 437 13.0 19.0
2 魏同立 东南大学微电子中心 87 942 17.0 26.0
3 常昌远 东南大学微电子中心 50 471 14.0 19.0
4 石春琦 东南大学微电子中心 1 48 1.0 1.0
传播情况
(/次)
(/年)
引文网络
引文网络
二级参考文献  (0)
共引文献  (0)
参考文献  (1)
节点文献
引证文献  (48)
同被引文献  (4)
二级引证文献  (68)
1999(1)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(0)
2002(0)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(0)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(0)
2003(3)
  • 引证文献(3)
  • 二级引证文献(0)
2004(2)
  • 引证文献(2)
  • 二级引证文献(0)
2005(1)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(1)
2006(8)
  • 引证文献(4)
  • 二级引证文献(4)
2007(6)
  • 引证文献(5)
  • 二级引证文献(1)
2008(6)
  • 引证文献(1)
  • 二级引证文献(5)
2009(11)
  • 引证文献(5)
  • 二级引证文献(6)
2010(13)
  • 引证文献(5)
  • 二级引证文献(8)
2011(5)
  • 引证文献(2)
  • 二级引证文献(3)
2012(5)
  • 引证文献(2)
  • 二级引证文献(3)
2013(10)
  • 引证文献(3)
  • 二级引证文献(7)
2014(8)
  • 引证文献(3)
  • 二级引证文献(5)
2015(5)
  • 引证文献(3)
  • 二级引证文献(2)
2016(11)
  • 引证文献(5)
  • 二级引证文献(6)
2017(8)
  • 引证文献(1)
  • 二级引证文献(7)
2018(5)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(5)
2019(7)
  • 引证文献(3)
  • 二级引证文献(4)
2020(2)
  • 引证文献(1)
  • 二级引证文献(1)
研究主题发展历程
节点文献
LVS
物理验证
IC设计
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子器件
双月刊
1005-9490
32-1416/TN
大16开
南京市四牌楼2号
1978
chi
出版文献量(篇)
5460
总下载数(次)
21
总被引数(次)
27643
论文1v1指导