基于神经网络的MCM互连故障模拟器研究

• 作者: 李智 邵根富 郑东
• 来源期刊: 桂林电子工业学院学报
• 学科: 工学
• 关键词: MCM(多芯片组件) 神经网络 互连故障 故障模拟 能量函数
• 年，卷（期）: 2002,（6）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 1-5
• 页数: 5页
• 分类号: TP806+.1
• 字数: 3710字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-808X.2002.06.001

摘要

故障模拟器是基于模拟算法的测试生成系统的重要组成部分,其性能优劣直接影响测试集的各项指标.在基本互连结构的二值Hopfield神经网络模型基础上,提出了一种利用神经网络技术实现MCM互连故障模拟的方法.该方法以能量函数值反映故障状态的原理为基础,将判定测试矢量对故障的检测能力问题转化为能量函数值求解问题,简化了故障模拟的处理过程,提高了模拟效率.实验结果表明,用这一方法实现的验证性互连故障模拟器ICFSim,可以有效地对互连网络中的固定型故障和两两短路型故障进行快速模拟.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李智	桂林电子工业学院电子工程系	123	891	16.0	23.0
2	郑东	桂林电子工业学院电子工程系	2	5	1.0	2.0
3	邵根富	杭州电子工业学院科研处	31	108	6.0	8.0