一种基于 MCD 相关跟踪的投影特征快速提取方法

• 作者: 宁静涛 桂志国 韩焱
• 来源期刊: 测试技术学报
• 学科: 工学
• 关键词: 相关跟踪 投影特征 特征提取 MCD
• 年，卷（期）: 2002,（4）
• 所属期刊栏目: 图像处理技术
• 页码范围: 264-266
• 页数: 3页
• 分类号: TP274+.51
• 字数: 1663字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-7449.2002.04.010

摘要

针对产品内部复杂精密元件射线成像检测中有效、快捷的特征提取问题, 在分析 MCD(Maximum Close Distance) 相关跟踪算法的优缺点的基础上, 提出了一种基于 MCD 相关跟踪的投影特征快速提取方法, 它保留了 MCD 算法的抗干扰能力、匹配精度高的优点, 同时将大量的信息压缩为少量的投影特征, 减小了计算量, 提高了检测速度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	韩焱	华北工学院电子信息工程系	90	857	15.0	25.0
2	桂志国	华北工学院电子信息工程系	12	137	5.0	11.0
3	宁静涛	华北工学院电子信息工程系	1	5	1.0	1.0