InGaAs/AlGaAs量子阱中量子尺寸效应对PL谱的影响

• 作者: 于永芹 任忠祥 周海龙 尉吉勇 张晓阳 潘教青 秦晓燕 陈文澜 黄柏标 齐云
• 来源期刊: 量子电子学报
• 学科: 工学
• 关键词: InGaAs/AlGaAs量子阱 MOCVD 量子尺寸效应 应变效应
• 年，卷（期）: 2003,（3）
• 所属期刊栏目: 光电技术与材料
• 页码范围: 345-349
• 页数: 5页
• 分类号: TN304
• 字数: 2078字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-5461.2003.03.018

摘要

本文采用金属有机物化学气相淀积(MOCVD)方法设计并生长了两组InGaAs/AlGaAs应变多量子阱,量子阱的厚度分别为3 nm和6 nm,对其光致发光谱(PL)进行了研究,二者的发光波长分别为843 nm和942 nm,用有限深单量子阱理论近似计算了由于量子尺寸效应和应变效应引起的InGaAs/AlGaAs量子阱带隙的改变,这解释了两组样品室温下PL发射波长变化的原因.