沉积在硅油表面上Au薄膜的电学性能及成膜机理

• 作者: 叶全林 叶高翔 夏阿根 杨波 金进生 陶向明
• 来源期刊: 真空科学与技术学报
• 学科: 物理学
• 关键词: Au薄膜 网状结构 电特性
• 年，卷（期）: 2003,（4）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 235-239
• 页数: 5页
• 分类号: O484.1
• 字数: 3653字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-7126.2003.04.004

摘要

采用硅油作基底,沉积出具有网状特征结构的逾渗Au薄膜,用四引线方法原位测量Au薄膜的电学性能,测得其电阻随沉积时间以及凝聚时间的变化规律,较好地解释了此类薄膜的生长机制.对Au薄膜R-I特性的测量结果表明:生长在液体基底表面Au薄膜的局域隧道电流和跳跃电导效应比一般薄膜更为强烈,其功率谱指数w趋于零,该值远小于普通逾渗薄膜系统的相应值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨波	浙江大学物理系	61	249	10.0	12.0
2	夏阿根	浙江大学物理系	13	36	4.0	4.0
3	陶向明	浙江大学物理系	35	141	7.0	10.0
4	金进生	浙江大学物理系	18	114	6.0	10.0
5	叶高翔	浙江大学物理系	36	160	7.0	9.0
6	叶全林	浙江大学物理系	6	34	2.0	5.0