(Zr0.7Sn0.3)TiO4陶瓷介电性能与工艺参数关系的回归分析

• 作者: 刘丹丹 吴顺华 王国庆 赵玉双
• 来源期刊: 无机材料学报
• 学科: 工学
• 关键词: 回归分析 (Zr0.7Sn0.3)TiO4 介电性能
• 年，卷（期）: 2003,（4）
• 所属期刊栏目: 研究论文
• 页码范围: 892-898
• 页数: 7页
• 分类号: TQ174
• 字数: 4036字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-324X.2003.04.030

摘要

用回归分析方法得到了(Zr0.7Sn0.3)TiO4陶瓷的介电性能ε和δ与其工艺参数(CuO、ZnO)和玻璃的添加量(分别为x1、x2、x3 wt%)及预烧和烧结温度(分别为x4×103和x5×103℃)之间的定量关系:ε＝10.9731-1.4559x1+9.9154x2+1.9776x3-3.3160x22-0.2286x23-200.1697x24-161.9102x25+375.1160x4x5;lg(tanδ)＝-38.5876-0.6452x2+0.1235x3+31.2221x4+30.3861x5+0.1100x21+0.2077x22-0.0106x23-27.4317x4x5.能对给定工艺参数下的介电性能进行预测,并能确定满足特定介电性能的工艺参数,有助于加快电子陶瓷材料的研究.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴顺华	天津大学电子信息工程学院	44	353	10.0	15.0
2	王国庆	天津大学电子信息工程学院	23	174	8.0	12.0
3	刘丹丹	天津大学电子信息工程学院	4	31	3.0	4.0
4	赵玉双	天津大学电子信息工程学院	10	206	7.0	10.0