子孔径拼接干涉检测及其精度分析

• 作者: 张蓉竹 杨春林 石琦凯 蔡邦维 许乔
• 来源期刊: 光学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 物理光学 子孔径拼接 检测 精度
• 年，卷（期）: 2003,（10）
• 所属期刊栏目: 物理光学
• 页码范围: 1241-1244
• 页数: 4页
• 分类号: TH706
• 字数: 2950字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-2239.2003.10.019

摘要

介绍了利用小口径干涉仪检测大口径光学元件的方法,从统计的角度出发,详细地推导了子孔径拼接干涉检测技术中拼接参量的具体求解过程,以及使用统计回归方法分析了拼接检测系统精度.并通过实验对该理论进行了实际分析运算.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	许乔		82	1074	17.0	27.0
2	石琦凯		17	184	8.0	13.0
3	蔡邦维	四川大学光电系	66	756	15.0	24.0
4	张蓉竹	四川大学光电系	107	573	10.0	20.0
5	杨春林		29	204	7.0	13.0