逐行复位快闪式CMOS焦平面读出电路的测试方法

• 作者: 吉利久 董硕 赵建忠 陈中建 高峻 鲁文高
• 来源期刊: 激光与红外
• 学科: 工学
• 关键词: 焦平面 读出电路 测试方法
• 年，卷（期）: 2004,（6）
• 所属期刊栏目: 红外材料器件
• 页码范围: 460-463
• 页数: 4页
• 分类号: TN46
• 字数: 3332字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-5078.2004.06.019

摘要

介绍了一种逐行复位快闪CMOS焦平面读出电路的测试方法及测试结果.该电路基于电荷转移原理,采用逐行复位方式.基于测试考虑,设计了模拟光电流的测试管,和可调节的工作时序.设计了一种新的测试方法测量出了内部寄生参量.除此以外对电路的其他重要参数进行了详细测量.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吉利久	北京大学微电子研究院	47	298	11.0	15.0
2	鲁文高	北京大学微电子研究院	17	80	5.0	8.0
3	陈中建	北京大学微电子研究院	22	104	6.0	9.0
4	高峻	北京大学微电子研究院	7	42	3.0	6.0
5	赵建忠		12	47	4.0	6.0
6	董硕		4	17	3.0	4.0