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摘要:
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基于FPGA的DDR SDRAM测试平台设计
DDR SDRAM
FPGA
TCL脚本
测试平台
PyQt5
FPGA-DDR3电路设计与测试验证
读写带宽
信号完整性
FPGA
DDR3SDRAM
低功耗DDR高速信号的封装布线方案设计及信号完整性分析
DDR
高速信号
封装布线
信号串扰影响
电路设计
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
(/次)
(/年)
文献信息
篇名 DDRⅠ/Ⅱ信号的品质测试
来源期刊 电子设计技术 学科 工学
关键词
年,卷(期) 2004,(10) 所属期刊栏目 技术论坛
研究方向 页码范围 86
页数 1页 分类号 TP3
字数 492字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1023-7364.2004.10.007
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 杜吉伟 17 14 2.0 3.0
传播情况
(/次)
(/年)
引文网络
引文网络
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参考文献  (0)
节点文献
引证文献  (0)
同被引文献  (0)
二级引证文献  (0)
2004(0)
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  • 二级引证文献(0)
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子设计技术
月刊
1023-7364
11-3617/TN
16开
北京市
1994
chi
出版文献量(篇)
5532
总下载数(次)
6
总被引数(次)
1789
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