针对串扰引起的时延故障的测试产生

• 作者: 宫云战 张月 李华伟 李晓维
• 来源期刊: 计算机辅助设计与图形学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 串扰 时延故障 自动测试向量产生 波形敏化
• 年，卷（期）: 2004,（10）
• 所属期刊栏目: VLSI设计与测试及电子设计自动化
• 页码范围: 1448-1453
• 页数: 6页
• 分类号: TP302
• 字数: 4857字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1003-9775.2004.10.022

摘要

串扰的出现可能会导致电路出现逻辑错误和时延故障.因此,超深亚微米工艺下,在设计验证、测试阶段需要对串扰问题给予认真对待.由于电路中较长的通路具有较短的松弛时间,因此容易因为串扰问题产生时延故障.针对这类故障给出了一个考虑较长通路上串扰现象的时延故障测试产生算法,该算法采用了波形敏化技术.实验结果表明,采用文中的技术可以对一定规模的电路的串扰时延故障进行测试产生.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李华伟	中国科学院计算技术研究所信息网络研究室	55	595	14.0	22.0
2	李晓维	中国科学院计算技术研究所信息网络研究室	127	1467	20.0	32.0
3	宫云战	装甲兵工程学院信息工程系	37	383	11.0	17.0
4	张月	装甲兵工程学院信息工程系	1	10	1.0	1.0