电子部件故障诊断的Dempster-Shafer信息融合算法

• 作者: 于盛清 朱大奇 杨永清
• 来源期刊: 控制理论与应用
• 学科: 工学
• 关键词: 信度函数 模糊信息融合 DS信息融合 故障诊断
• 年，卷（期）: 2004,（4）
• 所属期刊栏目: 短文
• 页码范围: 659-663
• 页数: 5页
• 分类号: TP18|TP274
• 字数: 5281字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-8152.2004.04.038

摘要

针对电路故障元件诊断的不确定性问题,给出了光电雷达电子部件故障定位的多传感器Dempster-Shafer(DS)信息融合方法.通过测试电路中的被诊断元件的工作温度和工作电压,得出了DS证据理论中两传感器对各待诊断元件的信度函数分配,再分别利用利用模糊规则和DS联合规则得到融合后的信度函数分配,从而确定故障元件.单传感器诊断与融合诊断的结果比较说明多传感器融合算法具有较高的准确性,而模糊融合算法与DS算法的结果比较则说明DS算法在故障诊断方面更具有优越性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	于盛清	南京航空航天大学测试工程系	1	29	1.0	1.0