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摘要:
SY509-3-196 [篇名] A novel strainedsurface-channel pMOSFET Si{sub}0.7Ge{sub}0.3 with an ALDTiN/AI{sub}20{ sub}3/HfAIO{ sub }x/AI{ sub}20{ sub }3 gatestack;SY509-3-197 [篇名] A quantitative study of the nano-scratch behavior of boron and carbon nitride films;……
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文献信息
篇名 气相沉积
来源期刊 表面工程:英文版 学科 物理学
关键词 气相沉积 硅锗薄膜 生长工艺 碳氮薄膜
年,卷(期) bmgcywb_2005,(3) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 44-46
页数 3页 分类号 O484.1
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研究主题发展历程
节点文献
气相沉积
硅锗薄膜
生长工艺
碳氮薄膜
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研究分支
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表面工程:英文版
双月刊
北京市百万庄大街22号
出版文献量(篇)
192
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