LM优化算法在消光法测粒技术中的应用

• 作者: 李俊峰 王夕华 苏明旭 蔡小舒 黄有贵
• 来源期刊: 仪器仪表学报
• 学科: 工学
• 关键词: 光衰减谱 颗粒测量 反演
• 年，卷（期）: 2005,（8）
• 所属期刊栏目: 测量、原理及方法
• 页码范围: 943-945
• 页数: 3页
• 分类号: TH7
• 字数: 1970字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0254-3087.2005.08.052

摘要

基于限定模式反演算法,由LM优化算法对消光法测量衰减光谱进行反演处理,获得颗粒粒径和分布.讨论了目标函数构造,不同的粒径分布函数,单双峰分布及优化初值对于反演结果的影响及重要性.表明该算法具有很好稳定性和精确度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李俊峰	上海理工大学动力工程学院颗粒与两相流测量技术研究所	21	258	9.0	15.0
2	蔡小舒	上海理工大学动力工程学院颗粒与两相流测量技术研究所	218	2013	27.0	35.0
3	苏明旭	上海理工大学动力工程学院颗粒与两相流测量技术研究所	99	743	14.0	23.0
4	王夕华	上海理工大学动力工程学院颗粒与两相流测量技术研究所	4	55	4.0	4.0
5	黄有贵	上海理工大学动力工程学院颗粒与两相流测量技术研究所	3	25	3.0	3.0