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摘要:
在微电子工业中,广泛运用多孔介质表面被强化微电子器件的相变散热,特别是强化提高其临界热负荷的值.针对多孔介质表面的沸腾,提出了新的多孔介质临界热负荷模型,理论上解析了表面多孔参数对临界热负荷的影响,理论模型与实验结果吻合得很好.研究无疑对电子安全系统技术、安全控制技术和设计技术有重要指导意义.
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关键词热度
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文献信息
篇名 微电子器件散热控制及设计的一个理论模型
来源期刊 仪器仪表学报 学科 工学
关键词 微电子器件 多孔介质 散热
年,卷(期) 2005,(8) 所属期刊栏目 测试系统
研究方向 页码范围 1183-1184,1211
页数 3页 分类号 TN4
字数 1341字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:0254-3087.2005.08.158
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 柴立和 天津大学环境科学与工程学院 75 596 13.0 21.0
2 柴清和 解放军理工大学通信工程学院 6 10 2.0 2.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
微电子器件
多孔介质
散热
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
仪器仪表学报
月刊
0254-3087
11-2179/TH
大16开
北京市东城区北河沿大街79号
2-369
1980
chi
出版文献量(篇)
12507
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27
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146776
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