测试系统分析方法研究

• 作者: 周亚丽 黄芝花
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: M.S.A GRR 样本 关键参数 统计特性
• 年，卷（期）: 2006,（7）
• 所属期刊栏目: 封装、组装与测试
• 页码范围: 12-15,31
• 页数: 5页
• 分类号: TN407
• 字数: 2207字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1681-1070.2006.07.003

摘要

文中介绍了一种用于测试系统的分析方法,通过测试系统分析了解生产过程中使用的设备的变差,并对不合格的设备进行分析、改进,提高集成电路测试数据的真实性和准确性;减少产品在测试、检验过程中误判的可能性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	周亚丽		7	14	3.0	3.0
2	黄芝花		2	4	1.0	2.0