MCM基板电路中的短路和断路的自动光学检测算法

• 作者: 姚立新 张云
• 来源期刊: 电子工业专用设备
• 学科: 工学
• 关键词: 二值化处理 开运算 闭运算 骨架化算法
• 年，卷（期）: 2006,（2）
• 所属期刊栏目: 专题报道
• 页码范围: 35-38
• 页数: 4页
• 分类号: TN206
• 字数: 1740字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-4507.2006.02.009

摘要

介绍了MCM基板自动光学检测算法.该算法包括二值化处理,数学形态学中的开运算和闭运算、骨架化算法,以及特征提取和特征比对.该算法能够快速准确地抽取MCM基板电路中的主要特征,并且在有效放大短路和断路特征之后检测出缺陷.