片状元件的自动光学检测算法

• 作者: 方少红 武剑洁 王永欣 邱德红
• 来源期刊: 计算机工程
• 学科: 工学
• 关键词: 自动光学检测 片状元件 局部主波概率
• 年，卷（期）: 2009,（7）
• 所属期刊栏目: 人工智能及识别技术
• 页码范围: 198-199,208
• 页数: 3页
• 分类号: TP3
• 字数: 3057字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-3428.2009.07.069

摘要

表面贴装自动光学检测算法大多存在计算速度慢或对元件位置差异及图像变异敏感的问题.该文针对片状元件提出一种检测算法, 根据元件局部特征区域的灰度变化,通过引入局部主波概率,利用主波特性描述标本图像与被测元件图像之间的相似度,从而判断元件是否存在缺陷并确定缺陷种类.实验表明,该算法可缩小检测范围,降低计算量,提高算法适应性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	方少红	华中科技大学软件学院	13	43	4.0	6.0
2	邱德红	华中科技大学软件学院	27	172	7.0	11.0
3	武剑洁	华中科技大学软件学院	7	21	3.0	4.0
4	王永欣	华中科技大学软件学院	1	5	1.0	1.0