V2O5常压干燥气凝胶薄膜的制备及性能研究

• 作者: 吴广明 房兴梅 沈军 肖锟 陈世文
• 来源期刊: 真空科学与技术学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 溶胶-凝胶法 V2O5 气凝胶薄膜 干凝胶薄膜 X射线光电子谱
• 年，卷（期）: 2006,（z1）
• 所属期刊栏目: 技术交流
• 页码范围: 83-86,94
• 页数: 5页
• 分类号: O484
• 字数: 3423字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-7126.2006.z1.021

摘要

采用溶胶-凝胶技术制备溶胶,结合提拉镀膜方法,通过溶剂替换工艺在常压下制备出了纳米多孔结构的V2O5气凝胶薄膜.使用XRD、椭偏仪、XPS分别测试薄膜的晶态结构、折射率、表面成分,采用标准三电极法研究了薄膜的电化学伏安循环特性以及充放电性质.结果表明,经过溶剂替换薄膜孔隙率得到增加,比容量得到显著提高,可逆性也得到了改善;热处理使薄膜致密,孔隙率降低,样品在300℃热处理后V5+的含量增加,比容量有所提高.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	沈军	同济大学玻耳固体物理研究所	199	2285	26.0	36.0
2	肖锟	同济大学玻耳固体物理研究所	7	20	3.0	4.0
3	吴广明	同济大学玻耳固体物理研究所	118	1607	22.0	32.0
4	陈世文	同济大学玻耳固体物理研究所	5	31	3.0	5.0
5	房兴梅	同济大学玻耳固体物理研究所	4	13	3.0	3.0