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2006国际集成电路展(ⅡC2006)巡礼
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摘要：
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异步集成电路C标准单元的设计与实现
异步集成电路设计
标准单元
设计流程
C单元
贯彻MIL-STD-883C标准的集成电路老化测试系统
老化
老化中测试
集成电路
可靠性试验
集成电路技术应用及其发展前景研究
集成电路技术
元器件
半导体
系统设计
如何保证集成电路的测试质量
集成电路测试
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软件
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期刊影响力
家电科技
主办单位：
中国家用电器研究院
出版周期：
双月刊
ISSN：
1672-0172
CN：
11-4824/TM
开本：
大16开
出版地：
北京市宣武区下斜街29号
邮发代号：
2-129
创刊时间：
1981
语种：
chi
出版文献量（篇）
9328
总下载数（次）
11
总被引数（次）
7982
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