一种可重配置的存储器测试控制器设计

• 作者: 樊晓桠 王党辉 高德远
• 来源期刊: 计算机工程与应用
• 学科: 工学
• 关键词: 存储器 测试 可重配置 March 算法
• 年，卷（期）: 2006,（23）
• 所属期刊栏目: 博士论坛
• 页码范围: 1-3,7
• 页数: 4页
• 分类号: TP333
• 字数: 3789字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1002-8331.2006.23.001

摘要

存储器在SOC中所占的电路面积越来越大,因此存储器的正确与否影响着SOC芯片的成品率.存储器中的故障种类繁多,单一的测试方法不能保证所有故障的100%覆盖率.文章通过对广泛应用的March算法的分析,提出了一种可重配置的存储器测试方法.在该方法中通过设置一组控制寄存器就可以灵活地实现各种March算法.另外,采用资源复用的方法,在嵌入式微处理器核中增加了一个有限状态机、几个控制寄存器和几条专门用于存储器测试的指令,可以方便地实现各种March算法,并且硬件开销非常小.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	高德远	西北工业大学航空微电子中心	166	1045	15.0	24.0
2	樊晓桠	西北工业大学航空微电子中心	170	1393	17.0	29.0
3	王党辉	西北工业大学航空微电子中心	31	94	5.0	7.0