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摘要:
通过对钽电容器自愈机理的研究,针对传统老化方法不能彻底剔除电介质有缺陷的钽电容器的缺点,提出一种新的老化方法并对多种钽电容器进行老化实验.新方法可以有效识别并100%剔除电容器不良品,钽电容器生产率提高了50%,钽电容器失效率达到0.1%/(1 000 h),可靠性提高.经验证,这种新老化方法适用于固体电容器、片式钽电容器、聚合物钽电容器和液体钽电容器等多种元件的老化筛选.
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文献信息
篇名 提高钽电容器可靠性的一种新老化方法
来源期刊 电子元件与材料 学科 工学
关键词 电子技术 钽电容器 老化方法 自愈 加速寿命试验 可靠性
年,卷(期) 2007,(12) 所属期刊栏目 可靠性
研究方向 页码范围 69-71
页数 3页 分类号 TM535+.1
字数 2896字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1001-2028.2007.12.022
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 贾廷庆 2 7 1.0 2.0
2 傅顺旺 1 6 1.0 1.0
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研究主题发展历程
节点文献
电子技术
钽电容器
老化方法
自愈
加速寿命试验
可靠性
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子元件与材料
月刊
1001-2028
51-1241/TN
大16开
成都市一环路东二段8号宏明商厦702室
62-36
1982
chi
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