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提高钽电容器可靠性的一种新老化方法
提高钽电容器可靠性的一种新老化方法
作者:
傅顺旺
贾廷庆
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
电子技术
钽电容器
老化方法
自愈
加速寿命试验
可靠性
摘要:
通过对钽电容器自愈机理的研究,针对传统老化方法不能彻底剔除电介质有缺陷的钽电容器的缺点,提出一种新的老化方法并对多种钽电容器进行老化实验.新方法可以有效识别并100%剔除电容器不良品,钽电容器生产率提高了50%,钽电容器失效率达到0.1%/(1 000 h),可靠性提高.经验证,这种新老化方法适用于固体电容器、片式钽电容器、聚合物钽电容器和液体钽电容器等多种元件的老化筛选.
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可靠性
内容分析
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文献信息
篇名
提高钽电容器可靠性的一种新老化方法
来源期刊
电子元件与材料
学科
工学
关键词
电子技术
钽电容器
老化方法
自愈
加速寿命试验
可靠性
年,卷(期)
2007,(12)
所属期刊栏目
可靠性
研究方向
页码范围
69-71
页数
3页
分类号
TM535+.1
字数
2896字
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1001-2028.2007.12.022
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
贾廷庆
2
7
1.0
2.0
2
傅顺旺
1
6
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传播情况
被引次数趋势
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引文网络
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2020(1)
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二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
电子技术
钽电容器
老化方法
自愈
加速寿命试验
可靠性
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子元件与材料
主办单位:
中国电子学会
中国电子元件行业协会
国营第715厂(成都宏明电子股份有限公司)
出版周期:
月刊
ISSN:
1001-2028
CN:
51-1241/TN
开本:
大16开
出版地:
成都市一环路东二段8号宏明商厦702室
邮发代号:
62-36
创刊时间:
1982
语种:
chi
出版文献量(篇)
5158
总下载数(次)
16
总被引数(次)
31758
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