薄膜X射线测厚仪

• 作者: 江晶 靳其兵
• 来源期刊: 仪表技术与传感器
• 学科: 工学
• 关键词: 测厚仪 X射线 薄膜
• 年，卷（期）: 2007,（5）
• 所属期刊栏目: 仪器与仪表
• 页码范围: 18-19
• 页数: 2页
• 分类号: TH89
• 字数: 1940字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-1841.2007.05.007

摘要

介绍了以西门子PLC(可编程控制器)用于薄膜测厚的全自动往复式X射线测厚仪的研制,介绍了该测厚仪的硬件构成和测厚的工作原理. 该装置已成功应用在双向拉伸聚丙烯薄膜生产线上.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	靳其兵	北京化工大学自动化研究所	103	805	15.0	23.0
2	江晶	北京化工大学自动化研究所	1	6	1.0	1.0