用于SOC测试的一种有效的BIST方法

• 作者: 于宗光 刘战 王国章 须自明
• 来源期刊: 电子器件
• 学科: 工学
• 关键词: system-on-a-chip BIST
• 年，卷（期）: 2007,（4）
• 页码范围: 1152-1154
• 页数: 3页
• 分类号: TN407
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-9490.2007.04.007

摘要

为了提高SOC芯片的可测性和可靠性,我们提出了一种SOC测试的BIST技术的实现方案.针对某所自行研制的数字模拟混合信号SOC芯片,我们使用了不同的可测性技术.比如对模拟模块使用改进的BIST方法,对嵌入式存储器使用了MBIST技术.一系列的测试实验数据表明,该BIST方法能有效提高测试覆盖率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	须自明	江南大学信息工程学院	8	26	2.0	5.0
3	于宗光		140	722	12.0	22.0
4	王国章		12	83	4.0	9.0
8	刘战	江南大学信息工程学院	14	116	4.0	10.0