退火温度对La1-xCaxMnO3薄膜电输运特性的影响

• 作者: 张雪峰 方民宪 李会容 蒋洪川
• 来源期刊: 四川师范大学学报(自然科学版)
• 学科: 工学
• 关键词: LCMO薄膜 退火 氧含量 Mn4+/Mn3+比 金属-绝缘相变
• 年，卷（期）: 2008,（5）
• 页码范围: 597-600
• 页数: 4页
• 分类号: TB43
• 字数: 2685字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-8395.2008.05.025

摘要

采用磁控溅射法在STO(001)基片上沉积钙钛矿结构LCMO薄膜,研究了退火温度对LCMO薄膜微结构及电输运特性的影响.研究结果表明,随退火温度的升高,薄膜中氧含量及Mn4+/Mn3+比逐渐升高,LCMO薄膜中的Mn4+/Mn3+比与薄膜中的氧含量有关,当氧含量增大时,Mn4+/Mn3+比相应增大.LCMO薄膜的电阻率随退火温度升高而逐渐减小,而LCMO薄膜的金属-绝缘相变温度随退火温度升高而逐渐升高,经850 ℃退火处理的LCMO薄膜的金属-绝缘相变温度可达257 K.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张雪峰	电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室	1	1	1.0	1.0
2	蒋洪川	攀枝花学院电气信息工程学院	1	1	1.0	1.0
3	李会容	攀枝花学院材料工程学院	26	70	4.0	7.0
4	方民宪	电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室	1	1	1.0	1.0