基于BIST的编译码器IP核测试

• 作者: 杨兴 胡正伟 谢志远
• 来源期刊: 国外电子元器件
• 学科: 工学
• 关键词: 电路与系统 可测性设计 内建自测试 测试外壳
• 年，卷（期）: 2008,（1）
• 所属期刊栏目: 应用与设计
• 页码范围: 23-25
• 页数: 3页
• 分类号: TN407
• 字数: 1613字
• 语种: 中文

摘要

介绍了用于IP核测试的内建自测试方法(BIST)和面向测试的IP核设计方法,指出基于IP核的系统芯片(SOC)的测试、验证以及相关性测试具有较大难度,传统的测试和验证方法均难以满足.以编译码器IP核为例,说明了基于BIST的编译码器IP核测试的基本实现原理和具体实现过程,通过加入测试外壳实现了对IP核的访问、隔离和控制,提高了IP核的可测性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨兴	华北电力大学电子与通信工程系	11	43	3.0	6.0
2	谢志远	华北电力大学电子与通信工程系	100	776	15.0	22.0
3	胡正伟	华北电力大学电子与通信工程系	28	124	6.0	10.0