金属外壳引线键合可靠性研究

• 作者: 姚莉 张崎
• 来源期刊: 混合微电子技术
• 学科: 工学
• 关键词: 金属外壳 引线键合 镀层厚度 可靠性
• 年，卷（期）: 2008,（1）
• 页码范围: 68-74
• 页数: 7页
• 分类号: TN405
• 语种: 中文

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	姚莉	中国电子科技集团公司第43研究所封装事业部	4	7	1.0	2.0
2	张崎	中国电子科技集团公司第43研究所封装事业部	5	8	1.0	2.0