浅析封装腔体内自由粒子的产生及控制

• 作者: 关亚男 刘春芝 裴志强 贺玲
• 来源期刊: 微处理机
• 学科: 工学
• 关键词: 自由粒子 封装工艺 控制
• 年，卷（期）: 2008,（1）
• 所属期刊栏目: 大规模集成电路设计、制造与应用
• 页码范围: 9-10,13
• 页数: 3页
• 分类号: TN4
• 字数: 3333字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-2279.2008.01.003

摘要

军品封装过程中,封装腔体内自由粒子的存在严重影响了封装的成品率,控制自由粒子的产生是提高封装成品率的主要解决办法.分析了封装腔体内自由粒子产生的多种可能原因,并针对这些原因提出了控制办法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	裴志强	中国电子科技集团公司第四十七研究所	8	48	4.0	6.0
2	关亚男	中国电子科技集团公司第四十七研究所	5	1	1.0	1.0
3	刘春芝	中国电子科技集团公司第四十七研究所	2	20	1.0	2.0
4	贺玲	中国电子科技集团公司第四十七研究所	5	26	2.0	5.0