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摘要:
对AlGaN 肖特基紫外探测器件用不同剂量的γ射线进行辐照,测量了器件辐照前后的电流-电压特性、电容-频率曲线和响应光谱曲线的变化.实验发现γ辐照对器件的暗电流没有产生大的影响,但大剂量的辐照有使肖特基势垒高度降低的趋势.同时辐照还引起了器件的电容的频率特性的增强,并且降低了器件的响应率.这些现象可能是γ辐照在AlGaN材料中诱生了新的缺陷能级造成的.
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文献信息
篇名 AlGaN肖特基紫外探测器的γ辐照效应
来源期刊 半导体光电 学科 工学
关键词 γ辐照 AlGaN 肖特基势垒
年,卷(期) 2008,(1) 所属期刊栏目 光电器件
研究方向 页码范围 20-22,40
页数 4页 分类号 TN23
字数 1966字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 龚海梅 中国科学院上海技术物理研究所传感器技术国家重点实验室 69 451 10.0 18.0
2 白云 中国科学院上海技术物理研究所传感器技术国家重点实验室 19 37 4.0 6.0
3 张燕 中国科学院上海技术物理研究所传感器技术国家重点实验室 84 800 13.0 26.0
4 李雪 中国科学院上海技术物理研究所传感器技术国家重点实验室 64 465 12.0 19.0
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研究主题发展历程
节点文献
γ辐照
AlGaN
肖特基势垒
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
半导体光电
双月刊
1001-5868
50-1092/TN
大16开
重庆市南坪花园路14号44所内
1976
chi
出版文献量(篇)
4307
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22
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