常用数字芯片检测装置开发

• 作者: 吴霞 沈明
• 来源期刊: 仪表技术
• 学科: 工学
• 关键词: 数字芯片检测装置 89s52 数字芯片自动识别
• 年，卷（期）: 2008,（10）
• 页码范围: 50-51
• 页数: 2页
• 分类号: TM930
• 字数: 1625字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-2394.2008.10.019

摘要

以单片机89s52为核心,由可编程I/O接口、E2PROM、RAM、键盘和LED显示器等组成数字集成电路故障检测系统.介绍了使用单片机设计的集成芯片测试装置的工作原理及软硬件设计,该系统具有自动识别实验室常用TTL及CMOS数字芯片型号和测试其是否完好的功能.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴霞	中国计量学院机电工程学院	60	199	8.0	11.0
2	沈明	中国计量学院机电工程学院	1	3	1.0	1.0