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薄膜电阻器常见失效模式的分析和改进途径
薄膜电阻器常见失效模式的分析和改进途径
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摘要：
本文简单介绍了薄膜电阻器的制造过程.薄膜电阻器常见的失效模式和失效机理.并结合实践.简介绍了电阻器失效分析和改进的途径失效分析技术的延伸.
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文献信息
| 篇名 | 薄膜电阻器常见失效模式的分析和改进途径 | ||
| 来源期刊 | 安徽电子信息职业技术学院学报 | 学科 | 工学 |
| 关键词 | 薄膜电阻器 失效模式 失效机理 分析改进途径 失效分析技术的延伸 | ||
| 年，卷（期） | 2008,（5） | 所属期刊栏目 | 技术园地 |
| 研究方向 | 页码范围 | 20-21 | |
| 页数 | 2页 | 分类号 | TM544 |
| 字数 | 1682字 | 语种 | 中文 |
| DOI | 10.3969/j.issn.1671-802X.2008.05.009 | ||
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研究主题发展历程
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薄膜电阻器
失效模式
失效机理
分析改进途径
失效分析技术的延伸
研究起点
研究来源
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引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
安徽电子信息职业技术学院学报
主办单位：
安徽电子信息职业技术学院
安徽省电子学会
出版周期：
双月刊
ISSN：
1671-802X
CN：
34-1212/Z
开本：
大16开
出版地：
安徽蚌埠曹山路1000号
邮发代号：
26-189
创刊时间：
2002
语种：
chi
出版文献量（篇）
4281
总下载数（次）
14
总被引数（次）
8824
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