模糊聚类与SVM诊断模拟电路单软故障的方法

• 作者: 孙永奎 李辉 陈光(礻禹)
• 来源期刊: 计算机辅助设计与图形学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 模拟电路 故障诊断 模糊聚类 支持向量机
• 年，卷（期）: 2008,（5）
• 所属期刊栏目: VLSI设计与测试及电子设计自动化
• 页码范围: 612-617
• 页数: 6页
• 分类号: TP181|TM930
• 字数: 3931字
• 语种: 中文

摘要

针对低可测性模拟电路中存在的模糊组问题,提出一种模拟电路单个软故障诊断的方法.该方法对被测电路的故障进行模糊聚类,根据聚类的有效性指标自适应确定聚类数,并利用聚类的信息来确定可测元件集,引入支持向量机对故障进行分类识别.支持向量机结构简单、泛化能力强.最后,以模拟和混合信号测试标准电路证实了文中方法的有效性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈光(礻禹)	电子科技大学自动化工程学院	89	1213	20.0	31.0
2	李辉	电子科技大学空天科学技术研究院	95	836	16.0	23.0
3	孙永奎	电子科技大学自动化工程学院	8	181	6.0	8.0