基于多层膜偏振元件的软X射线磁光Faraday偏转测量

• 作者: 周克瑾 孙立娟 崔明启 席识博 张众 朱京涛 王占山 赵佳 赵屹东 郑雷 鄢芬 陈凯
• 来源期刊: 物理学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 软X射线 磁光Faraday效应 综合偏振测量装置 宽带多层膜
• 年，卷（期）: 2008,（5）
• 所属期刊栏目: 总论
• 页码范围: 2860-2865
• 页数: 6页
• 分类号: O4
• 字数: 4519字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-3290.2008.05.037

摘要

在北京同步辐射装置(BSRF)的3W1B软X射线光束线上利用自行研制的同步辐射软X射线综合偏振测量装置对Ni的M2,3边附近(60-70ev)进行了软X射线磁光(magneto-optical)法拉第效应(Faraday effect)的偏转测量,实验装置主要由起偏器,检偏器,样品架,圆形钕铁硼永磁铁和MCP探测器组成,偏振元件(起偏元件和检偏元件)均采用反射式非周期性Mo/Si宽带多层膜.实验采用反射起偏和反射检偏的模式,得到一系列能量范围在60-70eV间的法拉第偏转角结果,结果表明在Ni的M2,3边附近法拉第效应最为明显,当能量为65.5eV和68eV时,Faraday偏转角分别为1.79°±0.19°(1.79°为正反向磁场偏转角大小的平均值)和-0.76°±0.09°(0.76°为正反向磁场偏转角大小的平均值).