氧化镁薄膜二次电子发射系数的测试方法

• 作者: 李晨 王多书 罗崇泰 龙建飞
• 来源期刊: 真空与低温
• 学科: 物理学
• 关键词: 测试方法 氧化镁薄膜 二次电子发射系数
• 年，卷（期）: 2009,（4）
• 所属期刊栏目: 知识与进展
• 页码范围: 238-243
• 页数: 6页
• 分类号: O484.442
• 字数: 2129字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-7086.2009.04.009

摘要

综述了氧化镁薄膜二次电子发射系数的主要测试方法,包括静电法、脉冲中和法、双枪法、热控法、单脉冲法以及PDP间接法等.阐述了各测试方法的原理以及在测试中各自的优点和不足.分析表明,脉冲中和法和双枪法比较适合用于测试氧化镁薄膜二次电子发射.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	罗崇泰	兰州物理研究所表面工程技术国家级重点实验室	31	224	9.0	13.0
2	王多书	兰州物理研究所表面工程技术国家级重点实验室	26	207	9.0	13.0
3	龙建飞	兰州物理研究所表面工程技术国家级重点实验室	4	19	2.0	4.0
4	李晨	兰州物理研究所表面工程技术国家级重点实验室	4	23	3.0	4.0