高可靠锁相环设计技术研究

• 作者: 张民选 秦军瑞 赵学谦 赵振宇 郭斌
• 来源期刊: 计算机工程与科学
• 学科: 工学
• 关键词: 软错误 SET 锁相环 RHBD 电路加固
• 年，卷（期）: 2009,（z1）
• 所属期刊栏目: 高性能微处理器
• 页码范围: 76-79,83
• 页数: 5页
• 分类号: TN386.1
• 字数: 2949字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-130X.2009.A1.023

摘要

单粒子瞬变(SET)现象对高性能计算的影响日益严重,本文对高性能微处理器中锁相环(PLL)的RHBD(Radiation-Hardened-By-Design)加固方法进行了分析和总结,从系统级和电路级两个方面对PLL的SET加固方法进行了分类研究.分析结果表明,设计加固方法可以在较高的层次上考虑加固问题,降低了工艺依赖性,可以有效地提高PLL可靠性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张民选	国防科技大学计算机学院	71	251	8.0	12.0
2	秦军瑞	国防科技大学计算机学院	6	23	4.0	4.0
3	赵学谦	国防科技大学计算机学院	3	7	2.0	2.0
4	赵振宇	国防科技大学计算机学院	13	43	3.0	6.0
5	郭斌	国防科技大学计算机学院	2	8	2.0	2.0