基于图像处理的电子元器件表面缺陷检测技术

• 作者: 沈亚琦 袁巧玲 郑秀莲
• 来源期刊: 机电工程
• 学科: 工学
• 关键词: 表面检测 晶振外壳 图像处理 纹理特征
• 年，卷（期）: 2009,（7）
• 所属期刊栏目: 电气与仪表技术
• 页码范围: 14-16
• 页数: 3页
• 分类号: TP274+.5
• 字数: 2235字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-4551.2009.07.005

摘要

针对电子元器件的表面缺陷对其性能和品质有直接影响的问题,基于图像处理技术,以晶振外壳缺陷的检.测为例,研究了电子元器件表面缺陷的检测技术.首先建立了检测系统平台,然后对所获取的图像进行分析和检测目标分割,并由生成的灰度共生矩阵计算纹理特性值.基于惯性值对纹理的深浅具有敏感性,比较研究之后,采用了惯性值作为检测表面缺陷的指标.试验结果表明该方法能够有效检测平面缺陷.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	袁巧玲	浙江工业大学机械制造及自动化教育部重点实验室	18	90	6.0	8.0
2	郑秀莲	浙江工业大学浙西分校信电系	3	27	2.0	3.0
3	沈亚琦	浙江工业大学机械制造及自动化教育部重点实验室	1	25	1.0	1.0