一种复杂SoC可测性的设计与实现

• 作者: 杨兵 虞致国 魏敬和
• 来源期刊: 电子器件
• 学科: 工学
• 关键词: 可测性设计 扫描链 自动测试向量生成 存储器内建自测试 SoC
• 年，卷（期）: 2009,（2）
• 所属期刊栏目: 纳米、固态及真空电子器件
• 页码范围: 347-350
• 页数: 4页
• 分类号: TN407
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-9490.2009.02.028

摘要

随着SoC的复杂度和规模的不断增长,SoC的测试变得越来越困难和重要.针对某复杂32-bit RISC SoC,提出了一 种系统级DFT设计策略和方案.在该方案中,运用了多种不同测试设计方法,包括内部扫描插入、存储器内建自测试、边界扫描和功能测试矢量复用.结果显示,该策略能取得较高的测试覆盖率和较低的测试代价.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨兵	中国电子科技集团公司第五十八研究所	23	105	4.0	9.0
2	虞致国	中国电子科技集团公司第五十八研究所	30	143	6.0	10.0
3	魏敬和	中国电子科技集团公司第五十八研究所	69	261	7.0	13.0