GPS基带芯片中存储器的可测性设计

• 作者: 杨媛 王红敏 高勇
• 来源期刊: 电子器件
• 学科: 工学
• 关键词: 基带芯片 可测性设计(DFT) 内建自测试(MBIST) 测试覆盖率
• 年，卷（期）: 2009,（2）
• 所属期刊栏目: 纳米、固态及真空电子器件
• 页码范围: 306-310
• 页数: 5页
• 分类号: TN407
• 字数: 3353字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-9490.2009.02.017

摘要

GPS基带芯片中嵌入的存储器采用存储器内建自测试(Memory Built-in-Self-Test,MBIST)技术进行可测性设计,并利用一种改进型算法对存储器内建自测试电路的控制逻辑进行设计,结果表明整个芯片的测试覆盖率和测试效率均得到显著提高,电路性能达到用户要求,设计一次成功.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	高勇	西安理工大学电子工程系	189	1184	15.0	26.0
2	杨媛	西安理工大学电子工程系	92	559	12.0	19.0
3	王红敏	西安理工大学电子工程系	1	2	1.0	1.0