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摘要:
通过对工作经验的总结和相关参考文献的学习,本文主要阐述利用X-RAY,ICT和侧面观察放大镜对BGA/CSP器件焊后检查。利用生产中发生的实例,描述BGA/CSP器件诸如短路/空焊/少锡球/锡膏少印等缺陷的判断方法和产生原因。
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文献信息
篇名 BGA焊接后非破坏性检查
来源期刊 现代表面贴装资讯 学科 工学
关键词 X-RAY ICT BGA检查
年,卷(期) 2009,(6) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 19-21
页数 3页 分类号 TN305.94
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1 刘杰 1 0 0.0 0.0
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研究主题发展历程
节点文献
X-RAY
ICT
BGA检查
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
现代表面贴装资讯
双月刊
1054-3685
深圳市南山区南山大道2002号光彩新天地
出版文献量(篇)
3103
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