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摘要:
对装片机芯片丢失的检测采用了一种新的方法,对真空吸附响应时间的影响因素进行分析,提出了缩短真空吸附响应时间的途径.
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释放抖动
内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 装片机丢片检测响应时间分析
来源期刊 电子工业专用设备 学科 工学
关键词 粘片机 芯片丢失 流量传感器 响应时间
年,卷(期) 2011,(1) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 7-10,54
页数 分类号 TN606
字数 3205字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1004-4507.2011.01.003
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 徐品烈 中国电子科技集团公司第四十五研究所 2 2 1.0 1.0
2 郎平 中国电子科技集团公司第四十五研究所 3 3 1.0 1.0
3 任绍彬 中国电子科技集团公司第四十五研究所 1 2 1.0 1.0
传播情况
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引文网络
引文网络
二级参考文献  (1)
共引文献  (7)
参考文献  (3)
节点文献
引证文献  (2)
同被引文献  (1)
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1991(1)
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1994(1)
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2011(1)
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  • 引证文献(1)
  • 二级引证文献(0)
2011(1)
  • 引证文献(1)
  • 二级引证文献(0)
2012(1)
  • 引证文献(1)
  • 二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
粘片机
芯片丢失
流量传感器
响应时间
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子工业专用设备
双月刊
1004-4507
62-1077/TN
大16开
北京市朝阳区安贞里三区26号浙江大厦913室
1971
chi
出版文献量(篇)
3731
总下载数(次)
31
总被引数(次)
10002
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