SiO2三维光子晶体薄膜的制备与光学特性

• 作者: 宋诗莹 李燕丽
• 来源期刊: 天津科技大学学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 胶体晶体法 光子晶体 光子禁带
• 年，卷（期）: 2011,（1）
• 页码范围: 40-42,63
• 分类号: O431.2
• 字数: 2542字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-6510.2011.01.010

摘要

利用胶体晶体法沉积SiO2三维光子晶体,利用扫描电子显微镜(SEM)和分光光度计研究该晶体的结构特性和光谱特征,考察颗粒浓度、反应温度对光子禁带的影响.结果表明:随着SiO2颗粒浓度增大,反射强度随之增大,当浓度为1.92%时,反射强度最大,进一步增加浓度反射强度降低,同时光子禁带宽度变窄,禁带位置蓝移;随着温度增加,反射强度增加,禁带位置蓝移.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	宋诗莹	天津科技大学理学院	18	133	7.0	11.0
2	李燕丽	天津科技大学理学院	8	21	3.0	4.0