电子设备的可靠性快速增长试验技术

• 作者: 汪凯蔚 纪春阳
• 来源期刊: 中国质量
• 年，卷（期）: 2011,（3）
• 所属期刊栏目: 可靠性
• 页码范围: 24-28
• 页数: 5页
• 语种: 中文

摘要

引售 可靠性增长试验是GJB450A<装备可靠性工作通用要求>中规定的一个工作项目(403),其目的在于有计划地激发故障、分析故障和改进设计并证明改进的有效性.对于电子设备的全寿命周期.在工程研制的中期和使用之后的改型研制通常会开展可靠性增长试验,前者是为了达到研制可靠性目标而进行的可靠性研制试验,后者通常是产品在使用期间暴露出问题或者定型时可靠性指标已不满足现在的使用要求,需要提高可靠性指标而进行可靠性增长.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	汪凯蔚		6	18	2.0	4.0
2	纪春阳		3	3	1.0	1.0