基于加速寿命试验的晶体管静电放电潜在性失效的研究

• 作者: 原青云 杨洁 武占成 胡有志
• 来源期刊: 军械工程学院学报
• 学科: 物理学
• 关键词: ESD 潜在性失效 加速寿命试验
• 年，卷（期）: 2011,（3）
• 所属期刊栏目: 装备电磁防护理论与技术
• 页码范围: 20-23
• 分类号: O441.1
• 字数: 3114字
• 语种: 中文

摘要

对高频小功率硅双极结型晶体管2SC3356进行静电放电试验,并利用加速寿命试验原理对两组器件进行加速寿命试验.采用Arrhenius模型对试验结果进行计算分析,发现低于损伤阈值的ESD注入可以使器件的寿命缩短,得出ESD可以在高频小功率硅双极结型晶体管内部造成潜在性失效,使得器件寿命缩短.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	武占成	军械工程学院静电与电磁防护研究所	87	567	12.0	18.0
2	原青云	军械工程学院静电与电磁防护研究所	50	325	12.0	15.0
3	杨洁	军械工程学院静电与电磁防护研究所	29	181	9.0	12.0
4	胡有志	军械工程学院静电与电磁防护研究所	2	2	1.0	1.0