基于NSGA-Ⅱ算法的SoC测试多目标优化研究

• 作者: 王鹏 谈恩民
• 来源期刊: 电子测量与仪器学报
• 学科: 工学
• 关键词: NSGA-Ⅱ算法 SoC测试 测试时间 测试功耗
• 年，卷（期）: 2011,（3）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 226-232
• 分类号: TN407
• 字数: 4007字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3724/SP.J.1187.2011.00226

摘要

在系统芯片SoC测试中,测试时间与测试功耗是两个互相影响的因素.多目标进化算法能够处理相互制约的多目标同时优化问题.在无约束条件下,对SoC测试时间与测试功耗建立联合优化模型,并采用多目标进化算法中的改进型非劣分类遗传算法(Non-dominated sorting genetic algorithm Ⅱ,NSGA-Ⅱ)对模型进行求解.通过应用ITC'02标准电路中的p93791做应用验证,结果表明该方法能够给出模型的均衡解,证明了模型的实用性和有效性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	谈恩民	桂林电子科技大学电子工程与自动化学院	53	221	8.0	11.0
2	王鹏	桂林电子科技大学电子工程与自动化学院	8	58	4.0	7.0