基于OpenCv的石英晶片缺陷检测

• 作者: 刘桂礼 唐朋朋 李东 王艳林
• 来源期刊: 北京信息科技大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: OpenCv 缺陷检测 图像处理 石英晶片
• 年，卷（期）: 2012,（3）
• 所属期刊栏目: 研究论文
• 页码范围: 33-36
• 分类号: TN98
• 字数: 2992字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1674-6864.2012.03.008

摘要

针对石英晶片在生产制造过程中会产生物理缺陷的问题,提出了基于计算机视觉库OpenCv的石英晶片缺陷检测方法.通过对石英晶片图像进行平滑滤波、二值化处理、边缘检测,将处理后的图片与标准模板进行匹配,从而确定晶片是否存在缺陷.实验结果表明采用OpenCv进行图像处理比采用传统的图像处理代码,程序更简洁,执行效率更高,能较好地完成对晶片的缺陷检测.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李东	北京信息科技大学仪器科学与光电工程学院	55	144	7.0	8.0
2	王艳林	北京信息科技大学仪器科学与光电工程学院	32	89	6.0	7.0
3	刘桂礼	北京信息科技大学仪器科学与光电工程学院	42	134	6.0	9.0
4	唐朋朋	北京信息科技大学仪器科学与光电工程学院	2	9	1.0	2.0