基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取       
摘要:
随着红外探测器件制备工艺的不断发展,人们对InSb晶片表面质量的要求也越来越高,但是晶片在生产过程中不可避免地会引进各种杂质.研究了一种利用兆声超声并结合药液去离子水清洗InSb晶片的方法,并对清洗后的InSb晶片进行了表面颗粒度、表面有机物和表面粗糙度等方面的测量.实验结果表明,该方法能够有效去除InSb晶片表面的颗粒、有机物和金属离子杂质,但是也会略微增大晶片表面的粗糙度.
推荐文章
离子径迹模板辅助法制备InSb纳米线
重离子径迹模板
电化学沉积
InSb纳米线
脉冲电沉积制备InSb/Sb超晶格纳米线阵列
脉冲电沉积
InSb/Sb超晶格
组分
结构
基于图像处理的石英晶片定位技术研究
石英晶片
定位技术
图像处理
自动分选
石英晶片外观缺陷对频率的影响
石英晶片
外观缺陷
谐振频率
自动检测
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
(/次)
(/年)
文献信息
篇名 InSb晶片清洗研究
来源期刊 红外 学科 工学
关键词 InSb 兆声 SC-1 表面颗粒度 表面粗糙度
年,卷(期) 2012,(7) 所属期刊栏目 研究论文
研究方向 页码范围 34-38
页数 分类号 TN213
字数 4167字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1672-8785.2012.07.008
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 赵超 13 15 2.0 3.0
2 于增辉 2 2 1.0 1.0
3 程鹏 7 32 3.0 5.0
传播情况
(/次)
(/年)
引文网络
引文网络
二级参考文献  (21)
共引文献  (32)
参考文献  (9)
节点文献
引证文献  (0)
同被引文献  (0)
二级引证文献  (0)
1983(1)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(0)
1984(1)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(0)
1987(1)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(0)
1992(1)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(0)
1996(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
1997(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
1998(3)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(3)
1999(2)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(2)
2001(6)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(6)
2002(3)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(3)
2003(3)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(2)
2004(3)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(2)
2006(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
2008(1)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(0)
2009(1)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(0)
2011(1)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(0)
2012(0)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(0)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
InSb
兆声
SC-1
表面颗粒度
表面粗糙度
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
红外
月刊
1672-8785
31-1304/TN
大16开
上海市玉田路500号
4-290
1980
chi
出版文献量(篇)
3030
总下载数(次)
11
论文1v1指导