脉冲激光试验评估模拟电路单粒子效应

• 作者: 上官士鹏 封国强 朱翔 陈睿 韩建伟 马英起
• 来源期刊: 信息与电子工程
• 学科: 工学
• 关键词: 模拟电路 脉冲激光 单粒子效应 单粒子瞬态脉冲
• 年，卷（期）: 2012,（5）
• 所属期刊栏目: 微光机电与物理电子技术
• 页码范围: 633-638
• 页数: 6页
• 分类号: TN911.71
• 字数: 4928字
• 语种: 中文

摘要

利用脉冲激光对典型模拟电路的单粒子效应进行了试验评估及加固技术试验验证,研究2种不同工艺的运算放大器的单粒子瞬态脉冲(SET)效应,在特定工作条件下两者SET脉冲特征规律及响应阈值分别为79.4 pJ和115.4 pJ,分析了SET脉冲产生和传播特征及对后续数字电路和电源模块系统电路的影响.针对SET效应对系统电路的危害性,设置了合理的滤波电路来完成系统电路级加固,并通过了相关故障注入试验验证,取得了较好的加固效果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	韩建伟	中国科学院空间科学与应用研究中心	90	549	14.0	18.0
2	陈睿	中国科学院空间科学与应用研究中心	35	512	12.0	22.0
3	封国强	中国科学院空间科学与应用研究中心	22	139	6.0	10.0
4	上官士鹏	中国科学院空间科学与应用研究中心	12	54	4.0	6.0
5	马英起	中国科学院空间科学与应用研究中心	12	69	5.0	8.0
6	朱翔	中国科学院空间科学与应用研究中心	14	27	4.0	4.0