基于边界扫描技术的板级测试分析

• 作者: 宋月丽 朱振军 林明
• 来源期刊: 电子设计工程
• 学科: 工学
• 关键词: 边界扫描 板级测试 二次开发 覆盖率
• 年，卷（期）: 2012,（9）
• 所属期刊栏目: 电力电子技术
• 页码范围: 127-129,133
• 页数: 4页
• 分类号: TM133
• 字数: 2925字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1674-6236.2012.09.045

摘要

随着支持IEEE1149．1标准的边界扫描芯片的广泛应用，传统的电路板测试方法如使用万用表、示波器“探针”，已不能满足板级测试的需求．相反一种基于板级测试的边界扫描技术得到了迅速发展。对边界扫描测试技术的原理进行了剖析．根据边界扫描测试系统的使用规则对板级测试方法进行了分析、提出了整体测试流程，最后在通用测试的基础上进行了二次开发．提出了提高电路板测试覆盖率的方法。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	林明	江苏科技大学电子信息学院	42	201	7.0	11.0
2	朱振军	江苏科技大学电子信息学院	3	16	2.0	3.0
3	宋月丽		2	16	2.0	2.0