基于边界扫描的电路板测试性优化设计

• 作者: 刘冠军 易晓山 温熙森
• 来源期刊: 计算机工程与科学
• 学科: 工学
• 关键词: 边界扫描 测试性优化设计 电路板
• 年，卷（期）: 2002,（2）
• 所属期刊栏目: 可靠性与容错
• 页码范围: 73-76
• 页数: 4页
• 分类号: TP391.76
• 字数: 3065字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-130X.2002.02.018

摘要

基于边界扫描的电路板测试性设计中,迫切需要解决"测试性改善程度一定时,如何权衡设计使得设计复杂性最小"的问题.本文首先深入分析了该问题,证明它是一个NP-完全问题,然后基于贪婪策略提出了求解问题的优化算法.仿真实验表明,该算法能够得到较优化的电路板测试性设计方案.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘冠军	国防科技大学机电工程与自动化学院	88	860	18.0	23.0
2	温熙森	国防科技大学机电工程与自动化学院	96	1778	24.0	38.0
3	易晓山	国防科技大学机电工程与自动化学院	24	268	10.0	15.0